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产品详情

TeraSpike - LT-GaAs光电场检测器

TeraSpike是新一代的微探针，用于太赫兹频率范围内电场的光电导检测。基于客户的反馈和不断增长的应用驱动的需求，我们对近场探针进行了彻底的重新设计并且开发成功。新的探针是一款多用途表面近场电场探测器，适用于太赫兹波长范围内，具有前所未有的性能，可靠并且可适应。它可以完美地集成到太赫兹时域系统，在860 nm以下光激发，这是zui高性价比的解决方案，将您的系统变成功能强大的高分辨率近场太赫兹系统。

产品特点：

■ 市场上zui小的主动太赫兹探针，基于技术上认可设计，悬臂厚度仅有1μm（DE102009000823.3） 
■ 空间分辨率达3微米 
■ 频率范围0-4太赫兹 
■ 适用于所有基于激光的λ<860 nm的太赫兹系统
■ 安装与标准光机械部件兼容 
■ 典型的光激发功率：飞秒激光器1-5毫瓦（1-5微焦/平方厘米）

产品参数：


TeraSpike TD-800-  

      X-HR 

      X-HRS    

      X-HS 

    Z-A-500G 

Max. spatial resolution

3 μm

20 μm

100 μm

8 μm

Photoconductive gap size at tip

1.5 μm

2 μm

3 μm

5 μm

Dark current @ 1V Bias

< 0.5 nA

< 0.5 nA

< 0.4 nA

< 0.4 nA

Photocurrent

> 1 μA

> 0.6 μA

> 0.6 μA

> 0.5 μA

Excitation wavelength

700 nm ... 860 nm

Excitation power

1 mW ... 4 mW

Connection type

SMP


产品应用：

■ 超太赫兹研究：超材料，等离子体，石墨烯，波导，... 
■ 高分辨率太赫兹近场成像 
■ 非接触式薄膜电阻半导体成像 
■ MMIC器件特性分析 
■ 无损检测芯片 
■ 时域反射计（TDR）

Measured near-field distribution of a gated graphene layer on SiO2-Si revealing conductivity inhomogeneity  测量在 SiO2-Si上的石墨烯膜层的近场分布

Measured near-field image of a pulse-excited THz metamaterial surface
测量脉冲激发的THz超物质表面的近场图像

Measured near-field image of a pulse-excited THz metamaterial surface
测量脉冲激发的THz超物质表面的近场图像

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