客服手机:13061644116
电话咨询:021-64149583
邮件咨询:moli@microphotons.com
筱晓光子采用了zui新腔体设计实现了更低的ASE噪声,将信噪比特性提到到90dB/0.1nm,同时兼顾了超过10dBm的光输出功率。是光器件尤其是密集型波分复用类的无源器件、波长选择开关(WSS)等需要兼顾功率计噪声影响的高要求产品测试的理想选择。MP-550相对上一代产品将重复扫描所需时间减半,另外,还可以通过我司的功率计、偏振控制器等实现WDL、PDL等参数的测试。请致电或邮件询问(moli@microphotons.com)
■ 波长覆盖范围1260-1630nm,单台zui大覆盖范围100-130nm
■ 输出功率〉10dBm
■ 高信噪比〉90dB/0.1nm
■ 高波长精度(型号A:±20pm,型号C:±5pm)
种类 |
项目参数 |
单位 |
Performance |
||
TypeA |
TypeC |
||||
波长特性 |
波长调谐范围 |
nm |
1260-1360/1500-1630 |
||
分辨率 |
pm |
5 (<1pm with fine tuning) |
1(<1pm with fine tuning) |
||
绝对精度*1 |
工作保证温度 |
pm |
±30 |
±5 |
|
25土1℃ (典型值) |
pm |
±15 |
±2.5 |
||
重复性*1 |
pm |
±10 |
±2 |
||
稳定性*2 |
pm |
≤±5 |
≤±1 |
||
扫描速度 |
nm/sec |
1—100 |
|||
输出功率特性 |
输出功率 |
峰值(典型值) |
dBm |
≥13 |
|
全波长调谐范围 |
dBm |
≥10 |
|||
重复性*1,*3 |
dB |
±0.01 |
|||
稳定性*2, *3 |
dB |
±0.01 |
|||
输出平坦度和波长的比*1, *3 |
dB |
±0.2 |
|||
相对强度噪声(典型值) |
dB/Hz |
-145 (1MHz to 3GHz) |
|||
光谱 |
线宽(典型值) |
相干控制关 |
kHz |
500 |
200 |
相干控制开 |
MHz |
40 |
|||
SMSR (典型值) |
dB |
≥45 |
|||
STSSER *4 |
dB |
≥70 |
|||
SSSER *5 |
dB/nm |
≥80(90dB/0.1nm) |
|||
接口 |
光输出端口 |
|
FC或SC,SPC或APC |
||
光纤 |
|
SMF或PMF |
|||
通信 |
|
GP-B(IEEE 488.2),USB,RS-232C |
|||
功率计(可选) |
V |
0—3 |
|||
调制 |
低频 |
kHz |
DC—400 (输入电平-20V),调制深度>50%/V (典型值) |
||
高频(可选) |
MHz |
2—100(输入电平5Vp-p),调制深度>10%/V (典型值) |
|||
环境条件及其他 |
工作环境 |
温度 |
deg |
15-35 |
|
湿度 |
% |
<80 (无结霜) |
|||
电源 |
|
AC100-240±10%,50/60 |
|||
额定功率 |
VA |
100 |
|||
尺寸(W)*(D)*(H) |
mm |
210*440*110 |
|||
重量 |
kg |
6.5 |
*所有为1小时预热后的指标。适用于水吸收线以外的波长。
*1:阶段模式(Step)或者波长静止状态下。
*2:测定时间为1小时,环境温度变化为±0.5℃以内。
*3:自动输出控制模式下
*4:Ratio of signal power to total spontaneous emission power(典型值,在信号波长±15nm范围内)
*5:Ratio of signal power to maximum spontaneous emission power(典型值,在信号波长±3nm的范围内的1nm带宽)
*6:测试频率范围为 1MHz - 3GHz
高输出功率&高信噪比
MP-550可以和光功率计或者光谱分析仪相连接,用于测定波长特性。支持测试的操作软件可快速便捷的设定测试参数。
■ Agilent 816xA/B, N774xA光功率计
■ Yokogawa AQ2200 系列光功率计
■ AQ6317x, AQ6319, AQ6370x 等光谱分析仪
■ dBm光器件光谱分析仪
■ Fiberpro CA3000光器件光谱分析仪等等
■ 型号A:波长精度 +/-30pm
■ 型号C:波长精度+/-5pm
■ 1260-1360nm
■ 1260-1360nm
■ 1480-1630nm
■ 1500-1630nm
■ 1560-1680nm
■ 光学器件测量
■ 光纤传输测试
■ 光子材料特性
■ 相干相关的应用
■ 光谱测量