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■ 光纤设计
■ 测量多层物质的厚度达到1um
■ 扫面范围7mm
■ 任意探测长度
■ 单或双波工作模式
■ 双波工作设计提高扫描精度
■ 单波工作适合分布应用
■ 多波工作适合集中应用
■ 标准单模光纤作为探测器
■ 全光纤结构和基于压电陶瓷的扫描组件提高可靠性
■ 热机时间短
■ 自校正功能(双波模式)
■ 简单的操作界面/p>
记录(log)输出 |
干涉记录包封输出 |
热机时间 |
10分钟 |
随机配件 |
电源线,68pinNI数据采集器连接线,软件 |
光学特性 |
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兼容光纤 |
SMF-28(9/125um) |
光源(标准) |
SLD,1.3um±50nm FWHM,500uW |
光源(选装) |
SLD,1.3um±30nm,15mW |
参照光源,双波长模式 |
DFB光源,1539nm |
损耗,双波长模式 |
11dB |
损耗,单波长模式 |
7dB |
测量 |
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OCDR精度 |
典型10%(与光源带宽相关) |
扫描 |
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方式 |
双向压电陶瓷光纤拉伸器 |
扫描波形 |
三角波,幅度可调 |
扫描频率 |
可以通过软件调节,标准30Hz,zui高可达到300Hz |
zui大扫描范围 |
半幅好于±2%,全幅好于±4% |
扫描偏置 |
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模拟处理 |
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光学接收 |
信号通道PINFET |
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参考通道:PIN-TIA |
增益控制 |
30dB范围,通过GUI控制 |
滤波 |
带宽程控,HP,LP以及BP |
线性输出(干涉计信号) |
幅度±2V |
记录输出(干涉计封信号) |
幅度0-2.5V |
信噪比 |
依赖于光学反馈信号,范围50-70dB |
选装附件 |
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扫描驱动 |
高速扫描驱动 |
选装光源 |
高功率SLD,功率输出15mW |
■ 科研研究;
■ 产品制程控制以及后侧或者分布测试。
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